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	<title>SPECTRO Japan</title>
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		<title>可搬型金属分析装置ワークショップ（大阪）のご案内 – 来る12月8日（木）、12月9日（金）</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/11/%e5%8f%af%e6%90%ac%e5%9e%8b%e9%87%91%e5%b1%9e%e5%88%86%e6%9e%90%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%83%af%e3%83%bc%e3%82%af%e3%82%b7%e3%83%a7%e3%83%83%e3%83%97%ef%bc%88%e5%a4%a7%e9%98%aa%ef%bc%89%e3%81%ae%e3%81%94/</link>
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		<pubDate>Mon, 14 Nov 2011 08:09:30 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.jp/?p=857</guid>
		<description><![CDATA[可搬金属分析装置ワークショップのご案内
平成23年12月8日、12月9日
日時　：平成23年12月8日、12月9日（各日同じプログラム）
時間　：13:00～16:30
場所　：アメテック株式会社大阪オフィス
2007年 [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">可搬金属分析装置ワークショップのご案内<br />
平成23年12月8日、12月9日</p>
<p>日時　：平成23年12月8日、12月9日（各日同じプログラム）<br />
時間　：13:00～16:30<br />
場所　：アメテック株式会社大阪オフィス</p>
<p>2007年より弊社にて取り扱いを始めておりますSPECTRO社製可搬型固体金属分光分析装置ですが、昨今の可搬型の需要にSPECTR TESTの、製品発表を兼ねたワークショップを開催いたします。又同時に10月に世界で同時発表された、ハンドヘルドの蛍光X線分析装置 xSORTの展示もさせていただきます。</p>
<p>SPECTRO　TESTの特長<br />
・可搬型であるため、あらゆる現場にて、固体金属の分析が可能です。<br />
・高精度が求められる場合にも据え置き型と同等の分析が可能。<br />
・UVサンプルプローブにより、C・P・B・Sn・Nの分析が可能。<br />
・CCD検出器採用で、1個の試料にて標準化が可能（ICAL）</p>
<p>上記に挙げた特長を十分に体感していただくために、ワークショップ形式を採用いたしました。実機を使用したデモ・ワークショップセッションではお客様にご持参いただいたサンプルのクイック分析トライアルを予定しております（ワークショッププログラム参照）。</p>
<p>ワークショッププログラム<br />
13:00 開場、受付開始<br />
13:30 スペクトロの紹介		田原博雅<br />
13:45 SPECTEO TESTの紹介		清嶋賢一<br />
14:15 SPECTRO xSORT  の紹介	田原博雅<br />
15:00 休憩<br />
15:15 実機（SPECTRO TEST）を使用したデモ・ワークショップ	清嶋賢一<br />
　　　　　　-クイック分析トライアル予定*<br />
16:30 閉会</p>
<p>参加応募方法<br />
下記のE-Mailアドレスまでお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。12月8日、12月9日と同じプログラムですので都合の良い日をご指定ください。<br />
<a href="mailto:spectro-japan.info@ametek.co.jp?subject=ICP workshop, March 19">spectro-japan.info@ametek.co.jp</a></p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>据置型固体発光分析装置セミナーのご案内 &#8211; 来る11月30日（水）</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/11/%e6%8d%ae%e7%bd%ae%e5%9e%8b%e5%9b%ba%e4%bd%93%e7%99%ba%e5%85%89%e5%88%86%e6%9e%90%e8%a3%85%e7%bd%ae%e3%82%bb%e3%83%9f%e3%83%8a%e3%83%bc%e3%81%ae%e3%81%94%e6%a1%88%e5%86%85-%e6%9d%a5%e3%82%8b11/</link>
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		<pubDate>Fri, 11 Nov 2011 07:32:43 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.jp/?p=850</guid>
		<description><![CDATA[据置型固体発光金属分析装置セミナーのご案内
平成23年11月30日
日時　：平成23年11月30日
時間　：13:30～17:00
場所　：アメテック株式会社東京オフィス3階会議室
2011年6月に発表いたしました固体発 [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">据置型固体発光金属分析装置セミナーのご案内<br />
平成23年11月30日</p>
<p>日時　：平成23年11月30日<br />
時間　：13:30～17:00<br />
場所　：アメテック株式会社東京オフィス3階会議室</p>
<p>2011年6月に発表いたしました固体発光金属分析装置SPECTROLAB新型版を含むSPECTRO据置型装置ラインナップの技術セミナーを開催いたします。据置型装置のプロダトマネージャー（Kay Toeder氏）による、新技術のアプリケーションデーターを交えセミナー形式で発表いたします。</p>
<p>セミナー内容<br />
13:30　　ご挨拶：Andreas Eerden<br />
13:40　　SPECTRO MAXxの性能と使用技術：清嶋賢一<br />
14:15　　MAXx装置デモンストレーション<br />
14:45　　コーヒーブレイク<br />
15:00　　SPECTROLAB-M11の性能と使用技術：Kay Toeder<br />
16:30　　質疑応答<br />
17:00　　終了予定</p>
<p>参加応募方法<br />
下記のE-Mailアドレスまでお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。<br />
<a href="mailto:spectro-japan.info@ametek.co.jp?subject=ICP workshop, March 19">spectro-japan.info@ametek.co.jp</a></p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>TURBOQUANT – スクリーニング分析に対するスペクトロの回答</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/08/turboquant-spectros-answer-to-screening-analysis/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2011/08/turboquant-spectros-answer-to-screening-analysis/#comments</comments>
		<pubDate>Wed, 31 Aug 2011 05:29:52 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

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		<description><![CDATA[蛍光X線分析（XRF分析）の大きな利点は、試料調整などの事前準備をほとんどせずに試料をそのまま測定できること。しかし残念ながら、試料のマトリックス（検出元素を含む物質全体）が分光計の蛍光強度計測に影響を及ぼす通称「マトリ [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>蛍光X線分析（XRF分析）の大きな利点は、試料調整などの事前準備をほとんどせずに試料をそのまま測定できること。しかし残念ながら、試料のマトリックス（検出元素を含む物質全体）が分光計の蛍光強度計測に影響を及ぼす通称「マトリックス効果」が分析精度を損なうという問題がありました。あらかじめマトリックスの正体がわかっている場合や、マトリックスの整合が可能な場合には、様々な経験上の技術を駆使することで、マトリックス効果がもたらす誤差を補正する方法もあります。しかしまったく未知の物質をスクリーニングする場合、このようなアプローチはほとんど役に立ちません。</p>
<p>励起とマトリックス干渉のメカニズムは高度に解明されています。そのため試料の状態を数学的に算出することで観測スペクトラムから濃度を解析できるのが蛍光X線分析の強みですが、このような目的のために作られた市販のプログラムの多くは、較正用に「FP法（ファンダメンタル・パラメーター）」のアプローチを採用しています。標準試料を必要としない「スタンダードレス方式」と呼ばれるプログラムの大半は、合金、酸化物、水、油など、マトリックスがあらかじめ定義された試料だけにしかうまく援用できないのが実情でした。</p>
<p>スペクトロが開発したプログラム「TURBOQUANT」も、FP法のアプローチに基づいた分析をおこないます。しかしそこにコンプトン非干渉性散乱線の情報を利用することでさらに改良を加え、マトリックス補正を一段と強化した点が画期的です。</p>
<p>試料のマトリックス組成が何であるか詳細にはわからない場合でも、ソフトウェアに試料の物理的な状態（個体、粉末、液体のいずれか）を入力するだけでOK。まったく未知の試料を標準誤差10%以内の精度で分析することができるのです。もちろんマトリックスを事前に特定することができる場合（例えば有機物のみ）には、分析精度もさらに上がります。</p>
<h2>蛍光X線分析</h2>
<p>蛍光X線分析による定量分析で使用される較正方法を充分に理解するため、まずは典型的な試料から観測された蛍光スペクトルの特徴を例にとって、その結果が定量情報の精度にどのような影響を与えるかを考えてみることにしましょう。</p>
<p>蛍光X線の基本的なメカニズムはよく知られています。適切な光源（通常はX線管）から発せられる活動的なX線が試料に作用し、突き抜けることで試料の原子と相互作用を生じさせます。原子に充分なエネルギーがあれば電子が内殻から放出され、この放出でできた内殻の空孔を埋めるために、外殻から他の電子が移動します。この遷移が過剰エネルギーを生み出し、原子のエネルギー特性を示す蛍光X線として排出されるというメカニズムです。</p>
<p>被分析物濃度と蛍光強度の計測値は理論上比例するものの、まったく未知の試料を分析する際には直線的な相関関係が確認できないこともあります。そこで二次励起や、X線の吸収・増大・散乱などのいくつかのマトリックス効果が補正される必要があるのです。</p>
<p>TURBOQUANTは、未知の割合で存在する干渉要素が、通常の蛍光X線分析を阻害するという問題を克服するため、スペクトロが開発したFP法に基づくプログラムです。</p>
<p>TURBOQUANTは、使い勝手のよいFP法較正と、普遍的なマトリックス補正の利点を組み合わせ、未知の試料をスクリーニングするための理想的な較正法を実現しました。実際の分析に取りかかる前に注意すべき点は、較正アルゴリズムの精度がピーク強度計測の正確さに比例するということです。とりわけ元素の軽いマトリックスを扱ってピーク強度を測定する際に、スペクトルのバックグラウンドが誤測定の主な原因になり得ます。</p>
<h2>TURBOQUANTの性能</h2>
<p>TURBOQUANTは非常に適応性の高い較正プログラムで、まったく未知の試料に対しても標準誤差10%以内という分析精度を導き出すことができます。事前に必要なのは、その試料が固体か、粉末か、液体かという情報だけ。この性能を実証するため、既に組成がわかっている8種1組の標準スラグ（鉱滓）で蛍光X線分析装置「SPECTRO XEPOS ED-XRF」を較正し、その後で別に用意したスラグ試料を使って4種類の異なる較正法をテストしました（図1）。</p>
<p>（図1）較正タイプの違いによる精度の比較</p>
<table class="col5" cellspacing="0">
<tbody>
<tr>
<th> </th>
<th>実際の濃度 [%]</th>
<th>エンピリカル法による検出濃度 [%]</th>
<th>コンプトン法による検出濃度 [%]</th>
<th>FP法による検出濃度 [%]</th>
<th>TURBOQUANTによる検出濃度 [%]</th>
</tr>
<tr>
<th>MgO</th>
<td>16.8 ± 0.4</td>
<td>17.16 ± 0.05</td>
<td> </td>
<td>17.20 ± 0.05</td>
<td>17.01 ± 0.05</td>
</tr>
<tr>
<th>Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub></th>
<td>7.05 ± 0.08</td>
<td>6.33 ± 0.03</td>
<td> </td>
<td>6.83 ± 0.03</td>
<td>6.37 ± 0.03</td>
</tr>
<tr>
<th>SiO<sub>2</sub></th>
<td>38.5 ± 0.2</td>
<td>38.83 ± 0.06</td>
<td> </td>
<td>36.42 ± 0.06</td>
<td>38.42 ± 0.06</td>
</tr>
<tr>
<th>CaO</th>
<td>(32.7)</td>
<td>31.14 ± 0.06</td>
<td>33.18 ± 0.06</td>
<td>32.85 ± 0.06</td>
<td>34.19 ± 0.16</td>
</tr>
<tr>
<th>Fe</th>
<td>0.59 ± 0.05</td>
<td>0.515 ± 0.004</td>
<td>0.526 ± 0.004</td>
<td>0.495 ± 0.004</td>
<td>0.623 ± 0.005</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p>標準偏差がほぼ同一条件である場合には、エンピリカル法（実証法）がマセマティカル（数学的）なマトリックス較正よりもやや正確な値を示しています。しかしながら、例えば土壌のように異なったマトリックス内に含まれる試料をスラグ較正で分析すると、その状況はがらりと変わります（グラフ9）。結果からわかるように、エンピリカル較正を使用した場合には濃度が明らかに実際よりも過大に算出されており、全体で見るとTURBOQUANTの分析結果の方が実際の濃度に近い値を出しています。</p>
<p>この認証実験が示すことは、狭い範囲内でプロセスを管理された試料に対してはエンピリカル法が満足のいく分析能を発揮するものの、それよりも幅広い範囲の分析に対処しなければならないラボにとっては、充分な柔軟性を備えていないということです。その上、ある種のマトリックスにはまだ較正の基準が存在しないものもあります。より柔軟性の高いTURBOQUANTはラボの適用範囲を大幅に広げ、 同時に多くの品質管理業務の必要条件を満足させる精度水準に達しています。</p>
<h2>実例</h2>
<p>試料の種類や組成が極めて多様でありえるような状況で、環境試料をスクリーニングするのはもっとも難しい分析業務のひとつです。例を挙げるなら、家電廃棄物、汚染された土壌、セメント窯で使われる代替燃料など。代替燃料の状態は、単層の液体、多層の液体、エマルション（乳液）、スラッジ（汚泥）、粉末状、固体と多岐に渡ります。</p>
<p>ICP発光分析用標準液を混合して作った合成多元素試料を分析すると、単層の液体は分析が容易であるとわかります （図3）。</p>
<p>（図3）ICP発光分析用標準液（メルク社）を混合して作った合成多元素試料の分析結果</p>
<table class="col3" cellspacing="0">
<tbody>
<tr>
<th>元素</th>
<th>実際の濃度（mg/g）</th>
<th>計測濃度（mg/g）</th>
</tr>
<tr>
<th>Ag</th>
<td>100</td>
<td>105 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Bi</th>
<td>100</td>
<td>107 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Ca</th>
<td>100</td>
<td>86 ± 3</td>
</tr>
<tr>
<th>Cd</th>
<td>100</td>
<td>118 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Co</th>
<td>100</td>
<td>104 ± 3</td>
</tr>
<tr>
<th>Cr</th>
<td>100</td>
<td>88 ± 4</td>
</tr>
<tr>
<th>Cu</th>
<td>100</td>
<td>104 ± 1</td>
</tr>
<tr>
<th>Fe</th>
<td>100</td>
<td>94 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Mn</th>
<td>100</td>
<td>103 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Ni</th>
<td>100</td>
<td>99 ± 1</td>
</tr>
<tr>
<th>Pb</th>
<td>100</td>
<td>102 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Zn</th>
<td>100</td>
<td>101 ± 1</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p>一方、多層の液体から有意義な分析結果が得られない場合には、試料を均質化しなければなりません。同じ合成多元素試料とグラファイト（黒鉛）の粉末を混ぜて固め、ペースト状の物質をSPECTRO XEPOSで計測しました（図4）。</p>
<p>（図4）同じICP発光分析用標準液（メルク社）の混合液をグラファイトに混ぜた場合の分析結果</p>
<table class="col3" cellspacing="0">
<tbody>
<th>元素</th>
<th>実際の濃度（mg/g）</th>
<th>計測濃度（mg/g）</th>
<tr>
<th>Ag</th>
<td>100</td>
<td>72 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Ca</th>
<td>100</td>
<td>(200)*</td>
</tr>
<tr>
<th>Cd</th>
<td>100</td>
<td>113 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Cr</th>
<td>100</td>
<td>87 ± 4</td>
</tr>
<tr>
<th>Cu</th>
<td>100</td>
<td>88 ± 1</td>
</tr>
<tr>
<th>Fe</th>
<td>100</td>
<td>(161)*</td>
</tr>
<tr>
<th>Mn</th>
<td>100</td>
<td>89 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Mo</th>
<td>100</td>
<td>111 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Ni</th>
<td>100</td>
<td>93 ± 1</td>
</tr>
<tr>
<th>Pb</th>
<td>100</td>
<td>89 ± 2</td>
</tr>
<tr>
<th>Sn</th>
<td>100</td>
<td>92 ± 5</td>
</tr>
<tr>
<th>Zn</th>
<td>100</td>
<td>92 ± 1</td>
</tr>
</tbody>
</table>
<p>上記の分析に使用されたSPECTRO XEPOSは、偏光を含む様々な励起のオプションに幅広く対応できる極めて精巧なEDXRF分光計です。通常、試料はラボに持ち込まれて分析装置にかけられます。</p>
<h2>結論</h2>
<p>スペクトロが開発したTURBOQUANTは、定評のあるFR法のアプローチに加え、コンプトン散乱線の情報を利用することでマトリックス干渉を算出し、マトリックス効果を自動補正する機能を備えた蛍光X線分析用の較正プログラムです。このプログラムによってマトリックス組成の詳細な知識は不要となり、ソフトウェアに試料の状態（固体か粉末か液体か）を伝えるだけで、まったく未知の試料に対して相対的な誤差が10%以内という分析精度を達成しています。標準液が入手できる場合や、マトリックス組成が限定されたものであるとわかっている場合には、この分析精度はさらに増し、従来のエンピリカル較正に近い精度を得ることもできます。</p>
<p>いまやSPECTRO XEPOSなどの分析装置を通常の品質管理に用いながら、まったく未知の試料物質を検査できる能力をラボに備えておくことも可能なのです。</p>
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		</item>
		<item>
		<title>鋳鉄と含有炭素の真実（要約）</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/06/the-truth-about-carbon-in-cast-iron/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2011/06/the-truth-about-carbon-in-cast-iron/#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 30 Jun 2011 07:24:02 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.jp/?p=818</guid>
		<description><![CDATA[はじめに
鉄冶金の発達は、文明の進歩と密接不可分の関係にあります。また鉱石から金属鉄を遊離させる還元剤として古くより炭素が用いられてきたことを思えば、鋳鉄および鋼鉄と炭素の間にも深い因縁があります。炭素の含有量が0.1％ [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<h2>はじめに</h2>
<p>鉄冶金の発達は、文明の進歩と密接不可分の関係にあります。また鉱石から金属鉄を遊離させる還元剤として古くより炭素が用いられてきたことを思えば、鋳鉄および鋼鉄と炭素の間にも深い因縁があります。炭素の含有量が0.1％単位で上下すると鉄鋼の機械的特性が劇的に変わるため、炭素含有量の正確な測定は鉄冶金において非常に重要な問題です。しかしながら鋳鉄が含む炭素量は、しばしば誤測定されるのも事実。試料が粒状性質であることや、黒鉛の中に存在する不規則な炭素粒子が誤測定の原因となります。このような誤測定は試料を入念に準備することで防ぐことができるものの、再現性と信頼性を伴った測定結果を得るためには高次元の技術と経験が欠かせません。</p>
<p>19世紀には、鉄と炭素の複雑な相互作用について研究がなされてきました。そこで実証されたのは、鉄鋼の結晶質の粒状構造が、機械的特性を始めとする金属のさまざまな性質に甚大な影響を及ぼすこと。この粒状構造は炭素含有量によって大きく左右されるため、炭素の密度を適切かつ厳密に管理する能力は鉄鋼の製造工程において必要不可欠なものとなるのです。</p>
<h2>鉄鋼に含まれる炭素の測定</h2>
<p>1980年代まで、炭素含有量を測定する標準的な手段といえば燃焼法でした。それに加えて1960年代から広く普及してきたもうひとつの方法が放電源の火花や白熱を用いた発光分光分析で、なかでもスパーク放電発光分光分析は燃焼法よりも全体の測定が短時間で済むという魅力があります。</p>
<p>スパーク放電発光分光分析の大きな利点は、炭素だけではなく鉄冶金における他の重要元素も測定できること。窒素、ケイ素、硫黄をはじめ、マンガン、ニッケル、クロムなどの合金化元素も測定が可能です。こうなるともはや燃焼法による分析の出番はないようにも思われますが、炭素含有量が多いとき、試料を採取する技術によって結果が大きく左右するという問題を発光分光分析は抱えています。とりわけ試料の採取に際しては、黒鉛が含まれないよう慎重におこなう必要があります。鉄鋼分析の試料採取は単純ではありません。試料は通常、溶解した材料のほんの一部を使用しながらも、できるかぎり材料全体を代表するものでなくてはならないからです。</p>
<p>また、試料が凝固する冷却速度も非常に重要です。黒鉛は正確な計測を妨害する可能性がありますが、発光分光分析によって炭素を分析する際、急速に冷却することで黒鉛の混入を減らすことができます。試料の状態が発光分光分析の結果に及ぼす影響について示した＜図1＞をご覧ください。</p>
<p>3つの鋳鉄を試料として用意し、「ゆっくり」「非常にゆっくり」という2種類の冷却速度で、炭素総量3.7％の典型的なねずみ鋳鉄を測定しました。この＜図1＞は、典型的な発光分光分析の結果を示しています。</p>
<p>＜図１＞</p>
<table cellspacing="0" class="col3">
<tr>
<th>Sample</th>
<th>% C (OES)</th>
<th>% C (combustion)</th>
</tr>
<tr>
<td>1 (nearly white)</td>
<td>3.54</td>
<td>3.623</td>
</tr>
<tr>
<td>1 (grey)</td>
<td>3.19</td>
<td>3.679</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.350</td>
<td>-0.056</td>
</tr>
<tr>
<td>8 (nearly white)</td>
<td>3.58</td>
<td>3.589</td>
</tr>
<tr>
<td>8 (grey)</td>
<td>3.29</td>
<td>3.664</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.290</td>
<td>-0.075</td>
</tr>
<tr>
<td>16 (nearly white)</td>
<td>3.52</td>
<td>3.599</td>
</tr>
<tr>
<td>16 (grey)</td>
<td>3.15</td>
<td>3.666</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.370</td>
<td>-0.067</td>
</tr>
</table>
<h2>発光分光分析とねずみ鋳鉄――分析上の問題</h2>
<p>実際に炭素量を計測する前には、その準備段階としていわゆるプレスパークやプレ燃焼をおこなうのが一般的です。プレスパークは数千回に及ぶ高エネルギーの火花からなり、実計測の前に試料の表面を融かして均質化することを目的としておこなわれます。これはよくHEPS（高エネルギー・プレスパーク）と呼ばれる技術です。しかし残念ながら、黒鉛の破片などが不規則に混入している場合、実計測がなされる前にプレスパークが黒鉛の一部またはすべてを気体に昇華させ、炭素量が実際よりも少なく計測されてしまう原因になります。</p>
<p>そこでSPECTROLABは、発光分光分析技術の進歩を活用し、プレスパーク段階における炭素発光のシグナルを監視できるようにしました。このシグナルは不規則な黒鉛の存在をつきとめ、黒鉛の影響を最小限に留めるような分析上の条件を選択するために利用されます。試料の質が良ければ、それだけ測定結果の質も上がるのが分析の常。このアプローチでは統計的な手法も用いながら不良な試料を自動的に見つけ出します。</p>
<p>プレスパーク段階で炭素発光を検査するのに最適なスペクトル線はスペクトルの紫外領域にあり、他の元素と非常に近寄っています。プレスパークは数秒で何千ものデータポイントを生成するので、そのシグナルの扱いやデータの処理を緻密におこなわなければなりません。このアプローチで機器の側に求められるのは以下の点です。</p>
<ol>
<li>精密に制御され、常に一定のスパーク条件を再現できること（スパーク光源）</li>
<li>発光スペクトラムの紫外領域における良好なパフォーマンス（UVパフォーマンス）</li>
<li>非常に高度な光学的分解能と、極めて近接した輝線を正しく読み取る能力（分光）</li>
<li>計測結果の緻密な処理（データ処理／読み出しシステム）</li>
</ol>
<p>プレスパーク段階で炭素量を計測するために適したスペクトル線はC148.2であり、内部標準としてFe149.7を用います。本例におけるプレ燃焼では、読み出しシステムがスパーク5000回分の明度情報を10回ひとつのパケットにまとめました。つまり5000回のスパークから500パケット分の明度情報が得られたことになります。黒鉛をまったく含まない試料についておこなったプレスパーク段階の明度パケット測定値を＜図2＞に示します。</p>
<p>＜図2＞<br />
<img src="/uploads/figure_2.png" alt="" width="480" height="196" /></p>
<p>安定局面である700スパーク（70パケット）の後に、パケット明度が安定化を見せました。しかしながら質量濃度0.5%の黒鉛を含む試料では、＜図3＞で見られるように状況が異なっています。</p>
<p>＜図3＞<br />
<img src="/uploads/figure_3.png" alt="" width="480" height="191" /></p>
<p>この＜図3＞のケースでは、最初の安定局面を過ぎた後、150パケットに到達するまで炭素の明度が平均値を上回っています。</p>
<p>統計に基づくアプローチを用いることで、このデータから不規則な黒鉛がどれくらい存在するのかを示す指標を抽出することができます。指標が規定値を下回っていたら、通常推奨される193nmの輝線と、内部標準として適切な鉄の輝線（例えば187.7nm）を使用しながらそのまま分析を続けます。また本レベルと規定値限度の間にある場合は、C148とFe149の輝線をペアで用いて算出することで選鉱がなされます。</p>
<p>このような測定方式の改善により、ねずみ鋳鉄と白鋳鉄が示す試料上の相違は小さくなり、結晶構造の違いが原因でみられる誤差が大幅に減少しました。ねずみ鋳鉄の試料から得られる結果も、燃焼法による分析の結果とより好ましい一致をみるようになっています。</p>
<table cellspacing="0" class="col4">
<tr>
<th>Sample</th>
<th>C% (conventional method using C193nm)</th>
<th>C% (improved method using C148nm)</th>
<th>C% (combustion)</th>
</tr>
<tr>
<td>1 (almost white)</td>
<td>3.54</td>
<td>3.63</td>
<td>3.623</td>
</tr>
<tr>
<td>1 (grey)</td>
<td>3.19</td>
<td>3.64</td>
<td>3.679</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.350</td>
<td>-0.010</td>
<td>-0.056</td>
</tr>
<tr>
<td>8 (almost white)</td>
<td>3.58</td>
<td>3.66</td>
<td>3.589</td>
</tr>
<tr>
<td>8 (grey)</td>
<td>3.29</td>
<td>3.62</td>
<td>3.664</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.290</td>
<td>0.040</td>
<td>-0.075</td>
</tr>
<tr>
<td>16 (almost white)</td>
<td>3.52</td>
<td>3.69</td>
<td>3.599</td>
</tr>
<tr>
<td>16 (grey)</td>
<td>3.15</td>
<td>3.68</td>
<td>3.666</td>
</tr>
<tr class="highlight">
<td>Difference</td>
<td>0.370</td>
<td>0.010</td>
<td>-0.067</td>
</tr>
</table>
<h2>結論</h2>
<p>この測定方式は、発光分光分析装置「SPECTROLAB」が誇る最先端の性能を活用し、鋳鉄に含まれる炭素量を特定する精度を向上させるものです。試料の採取法が原因となる誤測定は大幅に減少したため、当方式の計測結果と燃焼法による分析結果との誤差はほとんどありません。粗悪な試料は自動的に見つけ出され、分析結果から除外されていきます。</p>
<p>この測定方式は特許取得出願済みです。</p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>アルミニウムのリサイクリング</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/03/aluminium-recycling/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2011/03/aluminium-recycling/#comments</comments>
		<pubDate>Thu, 31 Mar 2011 08:59:00 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.dev.eatcreative.jp/?p=805</guid>
		<description><![CDATA[アルミニウムのリサイクルが、単独の産業部門として急速に成長してきました。この大人気の軽金属が、新規生産のわずか5%に相当するエネルギーで、品質を劣化させることなく再生産できることは見逃せません。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">アルミニウムのリサイクルが、単独の産業部門として急速に成長してきました。この大人気の軽金属が、新規生産のわずか5%に相当するエネルギーで、品質を劣化させることなく再生産できることは見逃せません。</p>
<p>アルミニウムのスクラップの値打ちは、主に合金の組成によって決まります。そのため、アルミ合金の正確な組成分析に投資する価値は充分にあるでしょう。飛行機や自動車などの製造に必要な特殊軽合金の需要が、リサイクル素材の価格に高騰をもたらしているからです。</p>
<p>アルミニウムの元素分析をおこなうとき、どのような準備や注意が必要になるのでしょうか。その答えは、弊社の最新ホワイトペーパー「アルミニウムのリサイクル——分析で付加価値アップ」に詳述されています。</p>
<h2>ホワイトペーパーの内容</h2>
<ul>
<li>アルミニウム合金の分析に際し、実地で必要となる分析上の諸条件</li>
<li>蛍光X線分析技術およびスパーク励起式発光分析の役割と特長</li>
<li>SPECTRO xSORTおよびSPECTROTESTによるアルミニウム分析の検出限界と精度</li>
</ul>
<p>テクノロジー、製品情報、使用法などについてさらに詳しく知りたい方は、同<a href="/uploads/Aluminum_Recycling_Feb2011_web0.pdf">ホワイトペーパー</a>（無料）をご覧ください。</p>
<h2>はじめに</h2>
<p>　アルミニウムのリサイクルは、経費削減や環境保全に貢献する単独の産業として、大きな成長を遂げてきました。<br />
　その背景には、ふたつの要因があります。ひとつは、アルミニウム合金がとりわけリサイクルしやすい素材であること。本来の特性を失うことなく、何度でも再生できるのがアルミニウムという素材の特徴です。また、もうひとつの要因はエネルギー消費量を大幅に削減できること。新規に生産する場合に比べ、わずか5%の電力でアルミニウムはリサイクルが可能なのです。<br />
　たくさんの特殊なアルミ合金が、航空機製造や自動車製造のために開発されており、増大する需要が新品の鋼材はもちろんスクラップ素材の価格をも高騰させています。そのため、リサイクル業者は使用する素材の投入原料が何であるかを見極め、リサイクル行程の前にあらかじめ素材を格付けする作業に力を注いでいます。<br />
　この素材の見極めのために、もっとも有効な方法が元素分析です。しかしながら材料をいちいち社内のラボに持ち込む大掛かりな元素分析は、無駄が多く、費用も高額となり、業務に支障をきたすような遅れを伴うこともあります。その点、持ち運びができるポータブルな分析装置なら、スクラップ現場で即座に必要な元素分析をおこない、専門家でなくとも正確で実用的な素材の特定ができるのです。<br />
　このホワイトペーパーでは、数あるスペクトロの分析装置の中から、手持ち式の金属分析装置「SPECTRO xSORT」と持ち運びが容易な発光分光分析装置「SPECTROTEST」の2製品についてご紹介し、アルミニウム合金テストにおける使用法をご説明します。</p>
<h2>アルミニウム合金の特徴</h2>
<p>　これまでに数百種類の特殊なアルミニウム合金がそれぞれの目的のために開発され、様々な分類体系が確立されています。一般に最も広く使用されている分類体系のひとつが、米国アルミニウム協会が開発した分類法に基づく「国際アルミニウム識別体系（IADS）」。4桁の数字による分類体系で、最初の数字が主な合金化要素を示し、他の数字がそれぞれ個別の合金を表します。<br />
　各国にはこのIADS以外の分類法も存在し、なかには生産過程で素材に加えた熱処理などのプロセスで区別する分類法もあります。このように多種多様な特徴を持つ合金が存在するなかで、未分類の金属くずを再溶融するだけのリサイクルは非効率的です。<br />
　アルミニウムをリサイクルする主なメリットは、以下のようになります。</p>
<ul>
<li>ほとんどのアルミニウム合金は、繰り返し再溶融してもその品質を落とさないというリサイクルに適した特殊な性質を持っている。</li>
<li>アルミニウムのリサイクルは、新規にアルミニウムを生産する場合と比べて95％ものエネルギーを削減できる。</li>
<li>二次使用のアルミニウム素材にも既存市場があるため、アルミニウムのリサイクルはエネルギー効率以外にも財政上の魅力がある。</li>
</ul>
<p>　通常、スクラップには実に多種多様な形状や大きさがあるので、どのような分析技術を使うにせよその多様性に対応できなければなりません。さらには、高度な科学的知識を有する者でなくとも、現場で簡単に操作でき、携帯できる分析装置が理想的。事前に用意するサンプルも、最小限に留めたいものです。そのような要望に応えたのが、小型で手持ち式の蛍光X線（XRF）分析装置。新しい「SPECTRO xSORT」は、最新のXRF技術を採用し、金属くずを分類するための包括的な使いやすさを提供します。さらに、アルミリチウム合金の分析などをおこなう必要がある場合には、スクラップ現場で極めて快適な作業環境が経験できる可搬式発光分光分析装置「SPECTROTEST」がぴったりです。</p>
<h2>SPECTRO xSORT</h2>
<p>　現場解析での疲労を極限まで減らすよう最適化された分析装置が「xSORT」。バッテリーパックを装着した状態でも重さは1.7kg以下で、人間工学を追求したハンドルとグリップを装備しています。使用法は、試験サンプルの表面に当てて引き金状のボタンを押すだけ。ユーザーインターフェースおよび分析結果を表示するディスプレイは、見やすく操作も楽なPDA端末上にあります。装置は頑丈で、ボディは衝撃に強いABS樹脂。ご使用にならないときは、便利なホルスターに入れて携帯できます。分析結果はPDA端末に表示されますが、全分析はもちろん、xSORTが内蔵する詳細な合金ライブラリと分析結果を比較参照し、金属の細かな品質等級まで表示することができます。</p>
<h2>SPECTROTEST</h2>
<p>　マグネシウムやケイ素などの軽金属に対する精密な分析結果を得たいとき、またはアルミリチウム合金が検出されそうなときには「SPECTROTEST」がおすすめです。アルミリチウム合金は新世代の合金で、重量あたりの強度が並外れて頑丈であるため、航空宇宙産業や軍事目的の鍛造合金として重用されています。その一方で、合金内のリチウムが5ppmを超えると鋳造の際に問題となるため、スクラップの合金を精確に識別することが重要になってきます。<br />
　SPECTROTESTは、所定のスクラップ選別において、関心の対象となるすべての元素を検出します。さらにそれだけではなく、手持ち式の蛍光X線（XRF）分析装置が検出できないベリリウムやリチウムを検出することができます。</p>
<h2>ラボ据置型分析装置</h2>
<p>　最上級の精度による分析結果が必要な場合は、スペクトロが誇る高性能OES分析装置のSPECTROMAXxやSPECTROLABなどがおすすめです。分析の検出限界が低く、精確で、スピーディーな分析能力が品質管理や開発研究に理想的。据置型分析装置の詳細については、スペクトロのウェブサイト（www.spectro.jp）をご覧ください。</p>
<h2>まとめ</h2>
<p>　アルミニウムの元素分析は、アルミニウムをリサイクルするすべての工程において能率を上げ、付加価値をもたらします。ハンディな携帯式の分析装置は、スクラップ現場で、元素分析の専門知識がない人でも、精確かつ迅速で信頼できる合金の識別を可能にします。</p>
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		<item>
		<title>ICP発光分光／質量分析装置販売提携のお知らせ</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/02/icp%e7%99%ba%e5%85%89%e8%a3%85%e7%bd%ae%e8%b2%a9%e5%a3%b2%e6%8f%90%e6%90%ba%e3%81%ae%e3%81%8a%e7%9f%a5%e3%82%89%e3%81%9b/</link>
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		<pubDate>Wed, 02 Feb 2011 02:42:12 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.jp/?p=736</guid>
		<description><![CDATA[アメテック株式会社スペクトロ事業部〔以下、スペクトロ〕とエスアイアイ･ナノテクノロジー株式会社〔以下、SIIナノテク〕は、2011年2月1日をもって戦略的な販売提携を締結しました。
これにより、スペクトロ社製のICP発光 [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>アメテック株式会社スペクトロ事業部〔以下、スペクトロ〕とエスアイアイ･ナノテクノロジー株式会社〔以下、SIIナノテク〕は、2011年2月1日をもって戦略的な販売提携を締結しました。<br />
これにより、スペクトロ社製のICP発光分光／質量分析装置（SPECTRO GENESIS、ARCOSシリーズ、SPECTRO MS）の日本国内における販売をSIIナノテクが国内総代理店として行うこととなります。つきましては、上記のICP装置の販売に関する問い合わせは、SIIナノテクにご連絡いただけますようお願い申しあげます。<br />
スペクトロおよびSIIナノテクは、今回の提携により一層お客様へ満足いただける製品とサポートをお届けできると確信しております。今後とも両社に対し各段のご支援ご愛顧を賜りますようお願い申しあげます。</p>
<p>お問い合わせ先リンク<br />
<a href="http://www.siint.com/products/icp/sp_spectro/index.html">http://www.siint.com/products/icp/sp_spectro/index.html</a></p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>新住所</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2011/02/new_office/</link>
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		<pubDate>Wed, 02 Feb 2011 00:45:13 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://spectro.jp/?p=732</guid>
		<description><![CDATA[お取引先様各位
アメテック株式会社スペクトロ事業部
事業部長　アンドレアス・エーデン
移転のお知らせ
拝啓　時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り厚くお礼申し上げます。　さて　この度更なる [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p>お取引先様各位</p>
<p>アメテック株式会社スペクトロ事業部<br />
事業部長　アンドレアス・エーデン</p>
<p>移転のお知らせ</p>
<p>拝啓　時下ますますご清栄のこととお慶び申し上げます。平素は格別のご高配を賜り厚くお礼申し上げます。　さて　この度更なる業務効率化とサービス向上のため分散していました事業部を統合移転する運びとなりました。</p>
<p>平成23年1月24日（月曜日）より、新オフィスにて業務を開始いたします。</p>
<p>つきましては、ご多忙の折お手数ですが、住所登録のご変更をお願いする次第でございます。移転を機に、これまで以上の高い技術とサービスを目指してまいります。今後ともご支援とご愛顧を賜りますよう心からお願い申し上げます。最後になりましたが、貴社のますますのご発展をお祈りしつつ、簡単ながらお知らせ申し上げます。</p>
<p>敬具</p>
<p>記</p>
<p>新住所<br />
〒105-0012　東京都港区芝大門1-1-30芝NBFタワー　<br />
（1階：デモルーム　3階：オフィス）</p>
<p>TEL：03-6809-2405（代表）　FAX:03-6809-2410<br />
業務開始日: 平成23年1月24日（月曜日）より</p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>SPECTRO MSがPITTCONで銀賞を受賞</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/pr201008/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/pr201008/#comments</comments>
		<pubDate>Sun, 29 Aug 2010 07:39:16 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://dev.sp.eatcreative.jp/?p=691</guid>
		<description><![CDATA[SPECTRO MSがPITTCONで銀賞を受賞

市場における最新鋭機器、ICP質量分析装置が技術報道賞を受賞
無機元素の完璧な同時分析ができる初めてのICP質量分析装置
SPECTRO MS は将来の標準装置」とMa [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">SPECTRO MSがPITTCONで銀賞を受賞</p>
<ul>
<li>市場における最新鋭機器、ICP質量分析装置が技術報道賞を受賞</li>
<li>無機元素の完璧な同時分析ができる初めてのICP質量分析装置</li>
<li>SPECTRO MS は将来の標準装置」とManfred Bergsch<br />
( 独スペクトロCEO )がコメント</li>
</ul>
<p>　SPECTRO MSが、2010年の PITTCON（フロリダ州オーランド、2月28日〜3月5日）で報道賞銀賞を受賞いたしました。 この賞は展示会に出展された革新的な新製品を対象に、著名な科学技術関連の報道関係者たちによって選出されるものです。<br />
　受賞への道のりは容易ではありません。まずは公認の報道関係者150人が展示会を巡回して出展品を吟味し、各メディア代表者が傑出した3製品をそれぞれノミネート。その中から審査官が予備審査を行い、最終的に3つの賞を決定します。<br />
「出展した1000 社が、たった3つの賞（金・銀・銅）を争う狭き門です。私たちは、この初めての栄誉を非常に誇りに思っています」と、Manfred Bergsch（ドイツ・スペクトロCEO）はコメントしています。 </p>
<p>　世界で最初の完璧な同時分析ICP質量分析装置である「SPECTRO MS」は、6Liから238Uまでのすべての元素のマススペクトラムを自動的に記録することで、今までのシーケンシャル質量分析装置よりもはるかに高いサンプルスループットや、精度と正確さをユーザーに提供します。 </p>
<p>「このたびの受賞で、SPECTRO MSが将来のICP質量分析の概念を変えるという私たちの見解が裏付けられました。同時測定という画期的な機能は、数年前に登場した発光分光装置と同様に、この市場に改革を起こすことになるでしょう」とBergschは説明しています。（2010年3月、クレーフ）</p>
<p><strong>SPECTRO MSのテクノロジー</strong></p>
<p>SPECTRO MSは、今までの連続分析の質量分析計よりもはるかに正確で再現性の高い結果をもたらすだけでなく、測定速度も大幅に向上しています。<br />
全スペクトルの同時記録は、新しく設計されたハイエンドのコンポーネントによって可能になりました：<br />
- ビームから中性粒子や光子を取り除きながら、プラズマからのイオンを極めて能率的に質量分析装置へ輸送する斬新なイオン光学。<br />
- Mattauch-Herzogジオメトリ－を持つ2重収束セクター型質量装置静電分析器と永久磁石が、イオンビームの追加なしで焦点面の上にイオンを直接供給。<br />
- 4,800のチャンネルを持つ極めて強力な検出器が質量分析計の焦点面に置かれ、完全に、かつ同時に、リチウムからウランのマススペクトラム全体を記録。またこれらのチャンネルのそれぞれ異なった信号増幅によってさらに2つの別個の検出器に分配することで、SPECTRO MSは同位体比率を正確に測定します。</p>
<p>新しいSPECTRO MS の応用範囲は多様です。スペクトロは、同製品の極めて高いサンプルスループットとその性能が、研究開発分野に広く貢献できると考えています。その精度、サンプルスループット、および測定元素のすべてのマススペクトル全体の永久的な情報により、SPECTRO MSが各種研究開発の基準システムとして定着することを期待しています。</p>
<p><strong>同位体比率の明確化</strong><br />
研究開発分野ばかりでなく、同時分析の質量分析装置は様々な分野に対して魅力的な機能を提供します。例えば、環境、化学、および製剤の研究所では、本装置の低い検出限界と高いサンプルスループットが大いに役立ちます。はるかに異なる質量範囲でも同時に複数の同位元素比率を測定できる機能によって、新しい応用分野が見出されるでしょう。例えば地質学の研究において、サンプル測定をより正確に行うことができます。</p>
<p><strong>ICP-MSの背景</strong><br />
ICP-MSは約30年にわたって元素分析の手段として用いられてきました。 元素の含有量は、その質量の違いに基づいて測定されていました。まず液体サンプルはネブライザーによって摂氏10,000度の状態で噴霧化され、アルゴンのプラズマの中に入れられます。プラズマはサンプルの中に含まれている元素のすべてをイオン化します。イオンはイオン光学系のインタフェースによって輸送されてイオンビームに入れられ、質量分析計の中で焦点が合わせられます。質量分析装置は、マス／チャージ関係に従ってイオンビームを分離します。検出器はイオンを記録し、元素の含有量分析を行います。世界で最初のICP-MS機器として、新しいSPECTRO MSはイオン光学系、質量分析装置、および検出器のユニークな組み合わせによってイオンを永久的分離し、同時に検出することを可能にするのです。</p>
<p><strong>SPECTRO MSが幕張メッセに登場</strong><br />
スペクトロは、最新の分析機器、科学機器が幕張に集結する合同展「分析展2010／科学機器展2010」に出店します。<br />
2010年9月1日（水）〜9月3日（金）<br />
午前10時〜午後5時<br />
場所：幕張メッセ国際展示場<br />
ブース：7A-303　（アメテック内）<br />
併催：新技術説明会／JAIMAコンファレンス<br />
共催：東京コンファレンス</p>
<p><strong>スペクトロとは</strong><br />
スペクトロは発光分析装置や蛍光X線分析装置の分野における世界の主要なサプライヤーのひとつです。高度な機器を製造し、最適なアプリケーションを提供し、模範的な顧客サービスを提供しております。スペクトロ製品はユニークな技術によって顧客に計り知れないメリットをもたらし、1979年から今日まで30,000台 を超える分析装置を全世界の顧客に供給してきました。<br />
アメテックは、電子機器と電気モーターの世界的なサプライヤーであり、約25億米ドルの年間売上高を誇ります。</p>
<p>本件に関するお問合せ先<br />
アンドレアス・エーデン　03-3740-3916</p>
]]></content:encoded>
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		</item>
		<item>
		<title>分析展2010（第48回）／科学機器展2010に参加します。</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/%e5%88%86%e6%9e%90%e5%b1%952010%ef%bc%88%e7%ac%ac48%e5%9b%9e%ef%bc%89%ef%bc%8f%e7%a7%91%e5%ad%a6%e6%a9%9f%e5%99%a8%e5%b1%952010%e3%81%ab%e5%8f%82%e5%8a%a0%e3%81%97%e3%81%be%e3%81%99%e3%80%82/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/%e5%88%86%e6%9e%90%e5%b1%952010%ef%bc%88%e7%ac%ac48%e5%9b%9e%ef%bc%89%ef%bc%8f%e7%a7%91%e5%ad%a6%e6%a9%9f%e5%99%a8%e5%b1%952010%e3%81%ab%e5%8f%82%e5%8a%a0%e3%81%97%e3%81%be%e3%81%99%e3%80%82/#comments</comments>
		<pubDate>Fri, 27 Aug 2010 14:38:44 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://dev.sp.eatcreative.jp/?p=689</guid>
		<description><![CDATA[来る9月1日（水）から9月3日（金）までの3日間、幕張メッセ国際展示場におきまして下記の通り先端技術の粋を集めた分析機器を出展いたします。
日時:
2009年9月1日（水）〜9月3日（金）
午前10:00～午後5:00
 [...]]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">来る9月1日（水）から9月3日（金）までの3日間、幕張メッセ国際展示場におきまして下記の通り先端技術の粋を集めた分析機器を出展いたします。<br />
日時:<br />
2009年9月1日（水）〜9月3日（金）<br />
午前10:00～午後5:00
</p>
<p>場所:<br />
幕張メッセ国際展示場<br />
7A-303（アメテック・ブース</p>
<p>セミナープログラム</p>
<p>日時：9月1日（水）14:50～15:40<br />
部屋：A-7<br />
テーマ：新製品二重収束ICP質量分析装置SPECTRO MSと多元素同時分析ICP発光分析装置SPECTRO ARCOSの特徴 発表要旨：二重収束質量分析装置で高速・同時分析が可能である新発売のICP-MSの SPECTRO MS 及びハロゲン等の真空紫外領域が測定でき、オイル等の直接分析が可能であるICP発光分析装置 SPECTRO ARCOS の紹介<br />
また同期間内にはスペクトロと同グループの「エダックス」の新技術説明会も開催されます。</p>
<p>日時：9月3日（金）15:10～15:35<br />
部屋：A-2<br />
テーマ：購入前必見！ あらゆる分野の品質管理に最適！ 高感度微小部蛍光X線分析装置のご紹介<br />
発表要旨：最新の微小部蛍光X線分析装置Orbisによる食品、医薬品、化学、電気・電子分野の品質管理事例をご紹介<br />
 その他、展示会についての詳細は『分析展2010／科学機器展2010 開催について』をご覧ください。 </p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/%e5%88%86%e6%9e%90%e5%b1%952010%ef%bc%88%e7%ac%ac48%e5%9b%9e%ef%bc%89%ef%bc%8f%e7%a7%91%e5%ad%a6%e6%a9%9f%e5%99%a8%e5%b1%952010%e3%81%ab%e5%8f%82%e5%8a%a0%e3%81%97%e3%81%be%e3%81%99%e3%80%82/feed/</wfw:commentRss>
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		</item>
		<item>
		<title>新型ICP質量分析装置SPECTRO-MSセミナーのご案内</title>
		<link>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/spectro-ms-seminar/</link>
		<comments>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/spectro-ms-seminar/#comments</comments>
		<pubDate>Mon, 16 Aug 2010 02:04:14 +0000</pubDate>
		<dc:creator>admin</dc:creator>
				<category><![CDATA[news]]></category>

		<guid isPermaLink="false">http://dev.sp.eatcreative.jp/?p=633</guid>
		<description><![CDATA[拝啓　時下益々ご清祥のこととお慶び申し上げます。さて、2010年3月に発表いたしましたICP質量分析装置　SPECTRO MSの日本における新製品発表会を兼ねた、装置の技術セミナーを別紙の通り開催いたします。この装置は既存のICP質量分析装置にはない画期的な新しい技術を持っており、今回、装置のプロダクトマネージャーによる、新技術のアプリケーションデーターを交えセミナー形式で発表いたします。皆様方には大変お忙しい時期ですが、是非参加の程よろしくお願い致します。]]></description>
			<content:encoded><![CDATA[<p class="intro">新型ICP質量分析装置SPECTRO-MS　セミナーのご案内<br />
平成22年8月吉日</p>
<p>日時　：平成22年8月31日<br />
時間　：13:30～16:30<br />
場所　：中央大学　5号館</p>
<p>拝啓　時下益々ご清祥のこととお慶び申し上げます。さて、2010年3月に発表いたしましたICP質量分析装置　SPECTRO MSの日本における新製品発表会を兼ねた、装置の技術セミナーを別紙の通り開催いたします。この装置は既存のICP質量分析装置にはない画期的な新しい技術を持っており、今回、装置のプロダクトマネージャーによる、新技術のアプリケーションデーターを交えセミナー形式で発表いたします。皆様方には大変お忙しい時期ですが、是非参加の程よろしくお願い致します。</p>
<p>セミナー内容</p>
<p>13:30<br />
スペクトロの紹介</p>
<p>13：45<br />
ICP 質量分析装置　SPECTRO MSの紹介<br />
－Part 1－</p>
<p>14：30 休憩</p>
<p>1４:45<br />
ICP 質量分析装置　SPECTRO MSの紹介<br />
－Part 2－</p>
<p>15：30<br />
質疑応答</p>
<p>16：00<br />
閉会</p>
<p>アクセス:<br />
中央大学　理工学部応用化学科　後楽園キャンパス　<br />
東京都文京区春日1-13-27</p>
<p>•	東京メトロ丸ノ内線・南北線『後楽園駅』から徒歩5分<br />
•	都営三田線・大江戸線『春日駅』から徒歩7分<br />
•	JR総武線『水道橋駅』から徒歩15分</p>
<p><img src="http://spectro.jp/uploads/2009/02/chuo_university_accessmap1.jpg" alt="chuo_university_accessmap1" title="chuo_university_accessmap1" width="302" height="168" class="alignleft size-full wp-image-370" /></p>
<p>E-Mailアドレスまで下記のお客様情報をコピー＆ペーストした上ご記入頂きご送信ください。<br />
<a href="mailto:spectro-japan.info@ametek.co.jp?subject=ICP workshop, March 19">spectro-japan.info@ametek.co.jp</a></p>
]]></content:encoded>
			<wfw:commentRss>http://www.spectro.jp/news-events/2010/08/spectro-ms-seminar/feed/</wfw:commentRss>
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		</item>
	</channel>
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