SPECTRO MIDEX
第3世代に進化したSPECTRO MIDEX蛍光X線分析装置は最大233 × 160mmサイズの試料に対応した非破壊での微小スポット分析、マッピングに必要な全ての機能を備えています。
工業や研究の分野においては微小部での非破壊分析が求められていますが、SPECTRO MIDEXはこれらのお客様からの細かなニーズに応え、機能を拡大し装置の最適化を重ねた結果、この分野における新たな標準機としての性能を備え、使いやすいユーザーインターフェイスを提供できるようになりました。
X線発生部
SPECTRO MIDEXは空冷の低出力X線管球とソフトウェアにより制御されるコリメーターで、幅広いアプリケーションに対応する200um～4mmまでの数種類のスポットを試料上で得ることができます。
X線検出器
ペルチェ素子によって冷却される高分解能のシリコンドリフト検出器（SDD）は、従来型の約2倍の最大25万カウント/秒のX線を処理することができるため、未知試料の高速ポイント分析は、Mg～Uまでの元素範囲を僅か180秒で測定できます。
アプリケーション
- エレクトロニクス分野におけるRoHS規制の対象となるパーツやアッセンブリーに対するスクリーニング分析
- 自動車や航空産業の小さな部品の金属含有量の測定
- 宝石や貴金属の分析
- 警察の鑑識分野
- その他大きな試料表面上の元素分布の様子を微小スポットで解析する必要がある場合等
SPECTRO MIDEX