At-Line Analysis Using ED-XRF Spectroscopy to Detect Metals in Food

アプリケーション概要

製造ラインで蛍光X線分析法による食品中の金属の検出

19世紀初頭から、食品の安全性に対する関心が高まっています。ほとんどの国で、食品と安全に関する法律がますます厳しく制定されています。規制の中には、生産者が量を増やすために食品に添加する物質を指す法律用語である「不純物」に焦点を当てたものがあります。また、生産、包装、輸送、保管のさまざまな段階を通じて意図せず食品に混入する可能性のある金属などの物質、「汚染物質」に焦点を当てた規制もあります。従来のラボベースの品質管理元素分析法であるICP-OESやAASは、何年もうまく使われてきましたが、かなりのコストと処理スケジュールの遅れが生じています。.

このような状況を一変させるのが、新世代の高分解能迅速スクリーニング技術であり、ED-XRF分光法を用いて、製造ラインでラボ品質の元素分析を行うために特別に設計された装置です。

本稿では、この新しいポータブル機器が、食品中の金属を検出するための迅速なアットライン元素分析にどのように使用されているかを説明し、この機器が提供できる正確な分析結果について紹介します。