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XEPOSによるレアアース(希土類元素)の分析

レアアース（希土類元素）は、磁石、触媒、電池、レーザー、ディスプレイ、センサーなど、多くの現代技術に不可欠なユニークな物理的・化学的特性を持っている。しかし、レアアースは希少であり、地殻に不均一に分布しているため、その抽出と加工には困難とコストがかかる。そのため、鉱石、精鉱、合金、廃棄物など、さまざまな物質中のレアアースを正確かつ効率的に分析する方法を開発することが重要です。

エネルギー分散型蛍光X線分析（ED-XRF）は、希土類元素の分析に使用できる手法です。ED-XRFは、試料の前処理や化学分離を必要とせず、希土類元素を含む試料の元素組成に関する定性的および定量的な情報を提供できます。ED-XRFには、低コスト、高速、簡単な操作など、他の手法にはない利点がいくつかあります。

この蛍光X線分析レポートは、SPECTRO XEPOS ED-XRFが希土類元素（REE）の分析に非常に適していることを示しています。