地質材料および関連材料のサンプルの多元素分析は、分光分析装置にとって重要な課題です。地球化学探査や環境モニタリングでは、迅速なスクリーニング分析や精密な元素定量が可能な安定性と使いやすさから、ED-XRF装置が好まれることが多いです。エネルギー分散型蛍光X線分析(ED-XRF)装置は、主要元素、マイナー元素、微量元素の分析において、高速、高精度、高精度で経済的なソリューションとなります。
本稿では、地質および関連物質のサンプル中の微量元素の分析にSPECTRO XEPOS HEを使用し、プレス粉ペレットとして調製し、偏光、バンドパスフィルターおよび直接励起技術を用いた分析について述べます。
その結果、SPECTRO XEPOS HEは高い再現性と優れた精度で分析ができたことが報告されています。また、ほとんどの元素で非常に高い分光分解能と極めて低いLODを示しました。また、酸化物、硫化物、有機物のシングルキャリブレーション分析も含め、幅広い元素で良好な相関性を示しました。