| スペクトロ キューブD |
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スペクトロ MIDEX MID05 |
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多層膜コーティング／めっきの膜厚および組成分析のためのソフトウェア・アドオン『SPECTRO XRF Layers』
SPECTROCUBE D、SPECTRO MIDEX MID05微小部蛍光X線分析装置に搭載が可能な新ソフトウェア・アドオン『SPECTRO XRF Layers』により、多層膜コーティング／めっきの膜厚および組成の非破壊分析が高速、高精度で行えるようになりました。金属材料の表面処理、装飾用コーティング、プリント基板など様々な産業における膜厚や付着量の品質管理、工程管理用途にご利用いただけます。『SPECTRO XRF Layers』のFP法をベースとしたスマートな“キャリブレーションエンジン”は、標準箔を用意できない場合の迅速な半定量分析をも可能とします。ソフトで扱える層（被膜）の数および元素数はそれぞれ最大8層、55元素と業界トップクラス。これまでにない層構造や添加元素―例えば新開発のコーティング／めっき等への管理分析用途に対する即応性にも優れます。
膜厚測定の応用例
- 亜鉛めっき
- 亜鉛ニッケル合金めっき
- 無電解ニッケルめっき（P濃度測定可）
- ジルコニウムめっき
- チタンめっき
- 無電解ニッケル／金（ENIG）
- 無電解ニッケル／パラジウム／金（ENEPIG）
- 金めっき
- ロジウムめっき
- 銅すず亜鉛合金めっき
…その他多数
めっきの膜厚・組成のみならず、素地の組成も同時分析が可能。
下面照射型のCUBE Dではめっき液の管理分析も容易に実行することができます。
スピードと精度の両立
CUBE D、MIDEXともに最新のAMETEK自社製高速SDD検出器を搭載。わずか15秒で、現代の卓上型機としてクラス最高精度での分析が可能です。これは、このクラスの多くの装置と比べ2倍速く、1日あたり数百もの分析を可能にします。
使いやすさを追求
分析機になじみのない初心者にとっても高速でスムーズなワークフローを提供します。直感的操作が可能で、1つの画面に関連するすべての情報を表示。分析結果の表示、印刷、そして送信など、後のデータ使用やコンプライアンスの証明用に必要な機能もすべてサポートされています。
ソフトウェア測定画面の例
分析結果レポート出力の例
微小部の分析
自動可変のコリメータを駆使し、分析スポット径最小0.2mm（CUBE Dで標準。MIDEXではオプション）での分析が可能。電子部品など小さな材料の膜厚測定が可能です。
仕様
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CUBE D |
MIDEX MID05 |
| 外観 |
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| 検出器 |
SDD半導体検出器、分解能Mn Kαで ≤ 130 eV |
| X線管球 |
Moアノード、最大電圧50kV、最大出力40W |
| X線照射径 |
0.2/0.5/1.2/2.0/4.0mm。コリメータチェンジャー標準 |
1.2mm。コリメータチェンジャーオプション：0.2/0.5/1.2/2.0/4.0mm |
| X線の照射方向 |
下面照射 |
上面照射（ラボジャッキにて高さを調整） |
| 元素 |
Mg(12)～Bi(83)の範囲、最大55元素 |
| 層の数 |
最大8層 |
| 製品カタログ |
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